热门站点| 世界资料网 | 专利资料网 | 世界资料网论坛
收藏本站| 设为首页| 首页

ZB J 41008-1989 矩形花键拉刀 技术条件

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 23:34:14  浏览:8462   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:矩形花键拉刀 技术条件
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 刀具
替代情况:被JB/T 9992-1999代替
发布日期:
实施日期:1990-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
适用范围

没有内容

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 机械 工艺装备 刀具
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestMethodsforImpactResistanceofRigidPoly(VinylChloride)(PVC)BuildingProducts
【原文标准名称】:硬质聚氯乙烯(PVC)建筑产品耐冲击性的标准试验方法
【标准号】:ASTMD4226-2005
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D20.24
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑;塑料制品;塑料;聚氯乙烯;试验;冲击试验;冲击强度
【英文主题词】:brittlefailureenergy;buildingproducts;failureenergy;fallingweight;impacttest
【摘要】:Theimpactstrengthvaluesobtainedontheflatsectionsofabuildingproductprofilearerelevantonlytotheflatsectionthathasbeentestedandthesevaluesdonotnecessarilyindicatetheimpactresistanceofthewholeproduct,whichisaffectedbytheconfigurationoftheprofile(thatis,corners,ribs,etc).Constantweightandvariableheight,employedinthesetestmethods,allowthevelocityofimpacttovaryand,therefore,byProcedureB,candeterminetheenergyofductile-to-brittletransition,whichcannotbedeterminedifavariableweightisdroppedfromaconstantheight.Thesetestprocedureshavebeenfoundtobeusefulelementsinrigidpoly(vinylchloride)(PVC)buildingproductcharacterization.Compoundqualification,finishedproductqualitycontrol,environmentalandweatherabilityresearchanddevelopmentstudies,andfabricationtolerancepredictionconstituteusefulapplications.Choiceofthespecificimpactorheadconfigurationusedisrelatedtoavarietyofproductattributes,suchasspecimenthicknessandproducttoughnessaswellasabstractfactors,suchastheanticipatedmodeoffailureinaspecificapplication.Thegeometricuniquenessoftheimpactorheadconfigurationspreventsanycomparisonorcorrelationoftestingresultsonsamplestestedwithdifferingimpactorheadconfigurations.Ingeneral,theconicalimpactor,C.125,isusefultoensurefailureofthickerspecimenswheretheH.25impactorcausednofailure.Note28212;Equivalentsurfaceconditionsaremorelikelytooccurwhenspecimensarepreparedbycompressionmoldingorextrusionthanbyinjectionmolding.Whencomparingdifferentsamplestestedwiththesameimpactorheadconfiguration,impactresistanceshallbepermittedtobenormalizedforaveragespecimenthicknessoverareasonablybroadrange(forexample,1to3mm).3However,thisshouldonlybedonewhenthesurfaceconditionslistedin6.1areessentiallyequivalent.FIG.2ImpactTester1.1Thesetestmethodscoverthedeterminationoftheenergyrequiredtocrackorbreakrigidpoly(vinylchloride)(PVC)plasticsheetingandprofileflatsectionsusedinbuildingproducts,aswellasextrudedormoldedtestsamples,underspecifiedconditionsofimpactfromafreefallingstandardweightstrikinganimpactorwitheitheroftwoconfigurationsincontactwiththespecimen.1.2Twotestproceduresareincluded:1.2.1ProcedureA,usedtodetermineminimumimpactenergyrequiredtocausefailure(hole,crack,split,shatter,ortear).1.2.2ProcedureB,usedtodetermineminimumimpactenergyrequiredtocausebrittlefailure.1.3Thevaluesininch-poundunitsaretoberegardedasthestandard.Note18212;ThereisnosimilarorequivalentISOstandard.1.4Thetextofthisstandardreferencesnotesandfootnoteswhichprovideexplanatorymaterial.Thesenotesandfootnotes(excluding,thoseintablesinfigures)shallnotbeconsideredasrequirementsofthisstandard.1.5Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.SpecificprecautionarystatementsaregiveninSection8.
【中国标准分类号】:Q74
【国际标准分类号】:83_080_20
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:半导体集成电路电压调整器系列和品种
英文名称:Series and products of voltage regulators for semiconductor integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
替代情况:GB 4376-1984
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1994-08-08
实施日期:1995-04-01
首发日期:1984-05-13
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:全国集成电路标委会模拟分会
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:【胶订-大印张】平装16开, 页数:83, 字数:164千字
适用范围

本标准规定了半导体集成电路电压调整器的系列和品种,并给出了每一品种的引出端排列、推荐线路或功能框图及主要电参数。本标准适用于器件的生产、研制或使用时的选型。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学

版权声明:所有资料均为作者提供或网友推荐收集整理而来,仅供爱好者学习和研究使用,版权归原作者所有。
如本站内容有侵犯您的合法权益,请和我们取得联系,我们将立即改正或删除。
京ICP备14017250号-1