DD ENV 50218-1996 参量化欧洲微型试验芯片的描述
作者:标准资料网 时间:2024-05-18 17:55:16 浏览:9741
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【英文标准名称】:DescriptionofaparametrizedEuropeanminitestchip
【原文标准名称】:参量化欧洲微型试验芯片的描述
【标准号】:DDENV50218-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-09-15
【实施或试行日期】:1996-09-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验设备;可靠度;估计可靠性;金属氧化物半导体;半导体器件;电子设备及元件;晶体管;集成电路;计算机应用;数字集成电路;微处理机芯片
【英文主题词】:digitalintegratedcircuits;testequipment;transistors;reliability;semiconductordevices;assessedreliability;computerapplications;integratedcircuits;electronicequipmentandcomponents;metaloxidesemiconductors;microprocessorchips
【摘要】:DocumentstheparametrizedMOSteststructuresofthedevicemodelParameterextractionTestChip(PTC)oftheEuropeanMiniTestChip(ETC).
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:参量化欧洲微型试验芯片的描述
【标准号】:DDENV50218-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-09-15
【实施或试行日期】:1996-09-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验设备;可靠度;估计可靠性;金属氧化物半导体;半导体器件;电子设备及元件;晶体管;集成电路;计算机应用;数字集成电路;微处理机芯片
【英文主题词】:digitalintegratedcircuits;testequipment;transistors;reliability;semiconductordevices;assessedreliability;computerapplications;integratedcircuits;electronicequipmentandcomponents;metaloxidesemiconductors;microprocessorchips
【摘要】:DocumentstheparametrizedMOSteststructuresofthedevicemodelParameterextractionTestChip(PTC)oftheEuropeanMiniTestChip(ETC).
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
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